詳細(xì)摘要： EddyCus® map 2530RM電阻率測(cè)試儀在非接觸模式下自動(dòng)測(cè)量大型樣品的薄層電阻，最大可達(dá)300×300平方毫米（12×...

詳細(xì)摘要： EddyCus map C2C全自動(dòng)電阻率成像系統(tǒng)用于晶圓襯底或外延片的全面積表征，以確保半導(dǎo)體行業(yè)的工藝可靠性和質(zhì)量保證。該系統(tǒng)配備了兩個(gè)在傳輸模式下工作的非...

詳細(xì)摘要： EddyCusTF lab 2020電阻率測(cè)量?jī)x可以對(duì)導(dǎo)電薄膜進(jìn)行手動(dòng)單點(diǎn)測(cè)量，并以非接觸模式對(duì)薄金屬層進(jìn)行層厚測(cè)量。這個(gè)緊湊的臺(tái)式設(shè)備是快速和準(zhǔn)確測(cè)量200 ...

詳細(xì)摘要： Radiant PiezoMEMS薄膜壓電分析儀將數(shù)字、模擬和通信電路功能與已有的精密Multiferroic非線性材料測(cè)試儀相結(jié)合，所有這些功能都由Radia...

詳細(xì)摘要： 四探針面電阻測(cè)量?jī)xSD-800采用四探針接觸式原理，用于測(cè)量導(dǎo)電膜層的面電阻，探針直徑大，針頭光滑，能伸縮，不易 劃傷膜層。儀器有多個(gè)量程范圍可自動(dòng)選擇，以O(shè)h...

詳細(xì)摘要： 非接觸式面電阻測(cè)試儀Statometer G采用感應(yīng)式測(cè)量原理，無探針接觸導(dǎo)電膜層，既可測(cè)量表面導(dǎo)電也可測(cè)量表面不導(dǎo)電的導(dǎo)電玻璃和導(dǎo)電膜層，是目前Low-E鍍膜...